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弥散张量成像发现早发型精神分裂症白质改变
http://www.100md.com 2003年12月4日 医业网
     【医业网据路透社2003年12月3日芝加哥讯】北美放射学会年会提交一项研究说,弥散张量成像(DTI)发现年幼精神分裂症患者大脑前部白质的完整性受到破坏。这一结论表明,大脑“环路出错”可能是早发精神分裂症的标志。美国阿尔伯特·爱因斯坦医学院阿希塔利(ManzarAshtari)和同事指出,“DTI是一种定量确定白质相干性和可能的连续性的新方法”。:, http://www.100md.com

    他们用DTI检查了12名早发精神分裂症青少年和9名健康志愿者大脑前部区域的白质,并得到了前联合-后联合(AC-PC)平面上25mm到下5mm的影像。研究证实精神分裂症病人和对照组有显著不同,在会上阿希塔利指出,“DTI表明这种疾病与脱髓鞘有关,使得这些区域的联接出错”。她认为这可能导致发现一种新的治疗目标,而且本研究表明“精神分裂症在年幼时就开始了”。:, http://www.100md.com

    在被问及DTI可能的作用时,她说,现在就说可用它来作为诊断工具还为时过早,“但我们希望能这样”。:, http://www.100md.com

    约翰·霍普金斯大学的由西姆(DavidM.Yousem)告诉记者,这个DTI研究是近来一系列脑影像研究中的一个,它们告诉了我们更多的疾病机制。然而他提醒,尽管本研究令人激动,但要把它应用于临床实践可能还有10年时间。