模型和X线颅颌侧位片测量磨牙远移值的对比分析
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刘汝平；段银钟
磨牙远移|模型分析:头影测量分析,关键词：
参见附件(35kb)。
刘汝平；段银钟 呼和浩特内蒙古医学院第一附属医院；西安第四军医大学口腔医学院正畸科 010050 实用口腔医学杂志 2003 1
关键词：磨牙远移；模型分析:头影测量分析
目的 :研究推上颌第一磨牙远移后 ,其结果在模型和X线颅颌侧位定位片中的测量值有无差异。方法 :对 10例安氏Ⅱ亚类错牙合畸形患者的磨牙水平向远移结果进行对比分析 ,平均治疗时间 10 1d ,两种方法的最终测量值作统计学t检验处理。结果 :模型和X片显示 :上颌第一磨牙远移量 (3 .71± 1.47)mm和 (3 .78± 2 .0 2 )mm (P >0 .0 5 ) ;下颌磨牙近移量 (0 .80± 0 .5 6)mm和 (0 .99± 0 .63 )mm (P >0 .0 5 )。结论 :模型和X线颅颌侧位定位片对磨牙水平向移动量的测量分析值相近 ,无统计学意义上的差别。
关键词：磨牙远移；模型分析:头影测量分析
目的 :研究推上颌第一磨牙远移后 ,其结果在模型和X线颅颌侧位定位片中的测量值有无差异。方法 :对 10例安氏Ⅱ亚类错牙合畸形患者的磨牙水平向远移结果进行对比分析 ,平均治疗时间 10 1d ,两种方法的最终测量值作统计学t检验处理。结果 :模型和X片显示 :上颌第一磨牙远移量 (3 .71± 1.47)mm和 (3 .78± 2 .0 2 )mm (P >0 .0 5 ) ;下颌磨牙近移量 (0 .80± 0 .5 6)mm和 (0 .99± 0 .63 )mm (P >0 .0 5 )。结论 :模型和X线颅颌侧位定位片对磨牙水平向移动量的测量分析值相近 ,无统计学意义上的差别。
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