磁透镜引起的氯化银谱峰异常位移及其

    在 X射线光电子能谱成象分析中的应用

    赵良仲3

    刘 芬

    (中国科学院化学研究所 ,北京 100080)

    摘 要 用 X射线光电子能谱(XPS)分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的 AgCl。观察到在

    使用样品磁透镜和非单色化 X射线源的实验条件下不导电的AgCl 的电子峰产生异常大的谱峰位移 ,还

    发现这种异常谱峰位移可以应用于 XPS成象分析 ,以提高化学位移很小的元素化学态(如 Ag

    0

    和 Ag

    +)

    的 XPS象的分辨能力。

    关键词 X射线光电子能谱 ,成象 ,磁透镜

    2000209216收稿;2001202206接受

    1 引 言

    为了提高分析灵敏度 ,目前国际上某些先进的 X射线光电子能谱(XPS)仪在样品下方设置了一个

    磁透镜(XL 透镜) 。该透镜适用于分析导电样品 ,而分析非导电样品时要同时使用单色化X射线源和电

    子中和枪 ,此时所测谱峰无异常位移。笔者则选择了使用 XL 透镜、非单色化 X射线源和关闭电子中和

    枪的特殊实验条件 ,分析了银片上的AgCl ,发现非导体AgCl 的电子峰向低动能端产生很大位移 ,而金属

    银的电子峰无位移。其它非导电物质也有类似现象。笔者还发现这一现象可以应用于导电基体上的非

    导电材料的成象 XPS分析 ,以提高化学位移很小的元素的化学态 XPS成象分辨能力。

    2 实验部分

    2. 1 样品制备

    将分析纯AgCl 熔化后碾压成薄片 ,取一小块AgCl 薄片 ,用油压机将它压在表面平滑的银片上 ,制

    成AgClP Ag样品。

    2. 2 仪器 ......