细长型髁突增生病下颌骨及下颌神经管位置CT形态学研究(1)
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[摘要] 目的 应用CT进行细长型髁突增生病(HE)下颌骨解剖学及下颌神经管形态学研究,为临床治疗提供参考。
方法 对19例HE患者进行多层CT扫描,采用Mimics 10.0软件进行三维重建,在不同断面重建图像,进行下颌神经管、下颌孔和骨皮质测量,并与无下颌骨病变的对照组进行比较。结果 在第一磨牙中心长轴断面的舌侧、第二磨牙中心长轴的颊侧及上缘、磨牙后区中心至下颌角连线断面的颊侧、上缘及下缘、下颌孔下缘下5 mm处水平位断面的舌侧、前缘及后缘,2组下颌神经管外缘距下颌骨表面距离的差异具有统计学意义(P<0.05);在第一磨牙颊侧和下缘,2组下颌骨骨皮质厚度的差异具有统计学意义(P<0.05);2组下颌孔至下颌升支前缘及下颌骨下缘距离的差异具有统计学意义(P<0.05)。结论 细长型髁突增生病骨皮质厚度从下颌第一磨牙到下颌升支在各个方向均逐渐减小。与正常颌骨相比,下颌神经管在下颌第二磨牙及磨牙后区偏颊侧并靠上方,下颌孔在升支内侧较靠前并偏低。
[关键词] 髁突增生病; 下颌前突; 下颌孔; 下颌神经管
[中图分类号] R 782.6 [文献标志码] A [doi] 10 ......
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