【摘要】目的：探讨对应用3种根管倒充填材料玷污层去留对根尖微渗漏的影响，以期为临床应用提供依据。方法： 选取64颗单根管牙，常规根管预备后，冷牙胶侧向加压充填根管，根尖切除后进行根管倒预备，将其随机分为实验组与对照组( 每组各32 颗)。实验组：17%EDTA +2%氯亚明去除玷污层，对照组：用5mL生理盐水冲洗。从2组中随机抽取2颗牙做扫面电镜检测。各组分别用MTA、GIC和HG进行倒充填。去除根管上段充填物，将离体牙置于微渗漏模型， 于第1、2、4、7、10、15、20和3 0 天检测从冠方向根方漏出的葡萄糖的浓度。结果： MTA的封闭性在各个时间点均优于GIC、HG。离体牙同一种处理方法(去除或保留)下不同倒充填材料两两相比，均有统计学差异(P<0.05)。同一种倒充填材料在去除与保留玷污层处理中，MTA 、GIC去除玷污层在各个时间点的葡萄糖渗出浓度均低于保留玷污层 ......