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编号:283502
弥散张量成像对新生儿缺氧缺血性脑病的诊断价值
http://www.100md.com 2013年10月10日 河北医药 2013年第2期
髓鞘,水分子,1资料与方法,2结果,3讨论
     贾林燚

    新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是由于母亲因素、胎盘、脐带异常、分娩用药、产程延长、新生儿本身呼吸、循环、中枢神经系统(CNS)疾病等所有可能引起新生儿脑内缺氧缺血性损伤,使患儿产生一系列中枢神经系统症状的疾病。因为缺氧缺血致使患儿留有不同程度的神经系统后遗症,如智力发育障碍、癫痫、脑瘫等。MRI以无创、无辐射及任意方位成像的手段不仅从解剖角度反映新生儿脑部变化,而且弥散张量成像(DTI)从水分子的扩散运动方向上发现细微结构的异常,此技术能在HIE早期从分子水平和代谢水平的方面反映其变化,进行HIE病变性质与程度评价。

    1 资料与方法

    1.1 一般资料 收集我院2011年8月至2012年6月诊断为HIE患儿56例(病例组),其中男30例,女26例;年龄8~25 d,平均年龄16.7 d,缺血缺氧性脑病患儿的纳入采用国内标准:(1)病史:产前高危因素,胎动减少,胎心率减慢,羊水Ⅲ度胎粪污染;(2)Apgar评分1 min≤3分,5 min≤6分;(3)中枢神经系统症状体征:意识、肌张力和反射的改变 ......

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