短暂性脑缺血发作合并代谢综合征患者的预后分析
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[摘要] 目的:探讨代谢综合征在短暂性脑缺血发作患者中的发病情况并分析其对预后的影响。方法:选择短暂性脑缺血发作患者357例,根据是否合并代谢综合征分为合并代谢综合征组(182例)和无代谢综合征组(175例),随访12个月,平均随访(15.3±2.1)个月。比较两组患者再发TIA和进展为脑梗死的发病率,分析综合治疗条件下代谢综合征对TIA患者预后的影响。结果:TIA患者中代谢综合征的患病率为51%,合并代谢综合征组患者较无代谢综合征患者出现了更多再发TIA和脑梗死(P<0.05)。结论:代谢综合征在TIA患者中具有较高的患病率,是预测TIA患者预后不良的危险因素之一。
[关键词] 代谢疾病;短暂性脑缺血发作;发病率;预后
[中图分类号] R589[文献标识码]A [文章编号]1673-7210(2010)04(a)-060-02
短暂性脑缺血发作(transient ischemic attack, TIA)是缺血性脑血管病的一种常见类型,代谢综合征与多种疾病的发生、发展有关。已经证明,代谢综合征可增加冠心病的病死率[1]。本文通过对182例TIA合并代谢综合征患者的临床资料进行分析,探讨这一特殊人群的预后情况。
1资料与方法
1.1 一般资料
选择2007年1月～2008年1月在我院住院且资料完整的TIA患者357例,根据患者是否合并代谢综合征,分为两组,合并代谢综合征组182例,其中,男121例,女61例,平均年龄(58.2±13.2)岁;无代谢综合征组175例,其中,男155例,女20例,平均年龄(60.8±12.1)岁。随访12个月,平均随访(15.3±2.1)个月。
1.2 方法
所有患者入院时均行头颅CT或MRI检查,颅内无梗死病灶或有病灶,但非本次起病的责任病灶,无占位及出血等改变 ......
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