张伯生，贾福艳，尹全乐，白振武

    天津港口医院放射科，天津 300456

    新生儿缺氧缺血性脑病(hypoxic ischemic encephalopathy，HIE)是围生期多因素、多环节引起的新生儿脑缺血缺氧性损伤，轻者预后良好，重者可造成新生儿死亡或遗留永久性脑功能缺陷。本文对我院53例缺氧缺血性脑病患儿的远期预后与头颅CT复查结果进行分析，现报道如下：

    1 资料与方法

    1.1 一般资料

    选择2005年1月～2010年8月来我院就诊的53例新生儿缺氧缺血性脑病患儿，其中，男30例，女23例，平均月龄(7.0±2.5)个月；中度40例，重度13例。9例行围生期保健(17.0%)，45 例低 收 入 家 庭 (84.9%)，24 例出 生 时 窒 息(45.3%)。

    1.2 脑CT扫描方法

    HIE患儿行颅脑CT扫描，取特定的扫描层面及位置，双侧对称检测脑实质密度。采用飞利浦Brilliance 40层螺旋CT扫描机，扫描条件为 80～120 kV，80～120 mA/s，层厚 2～7 mm，层距2～7 mm，扫描范围以眼外眦至外耳口连线为基线，自颅底扫描至颅顶。

    1.3 CT分度[1]

    轻度：散在、局灶性脑白质低密度影分布于2个脑叶；中度：脑白质低密度影分布超过2个脑叶 ......