复杂型热性惊厥临床和脑电图特征与日后癫痫发生关系的研究(2)
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本次结果表明，热性惊厥患者脑电图正常率为64.1%；异常率为35.9%，数据比较无明显差异(P>0.05)。由此分析，临床中单纯的应用脑电图异常率很难对热性惊厥进行判断。通过脑电图异常与临床特征的相关性分析，初发年龄≥6岁、发热温度<38.5℃、复杂性热性惊厥、部分发作和伴有EP家族史以及24h内发作>1次与持续时间≥15min的热性惊厥患者发生脑电图异常率明显升高。因此，临床中应加强该热性惊厥患者的脑电图检查，可以通过检查脑电图异常率对其进行判断[8]。数据还显示，初发年龄≥6岁、发作类型复杂、枕区和额区放电患者发生癫痫几率明显的高于初发年龄<6岁、发作类型单纯、广泛性区、Rolandic区患者。因此临床中可以依据热性惊厥患者的临床特征和脑电图特征对其日后癫痫进行判断。复杂性的热性惊厥患者日后发生癫痫的几率明显高于单纯性的热性惊厥患者。并且复杂性热性惊厥患者脑电图异常率明显的高于单纯性的热性惊厥患者。进一步的分析表明，临床中脑电图异常是热性惊厥患者日后发生癫痫的危险因素[9]。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素，明显高于其他区放电患者[10，11]。枕区和额区放电的脑电图异常患者日后发生癫痫的几率会明显的上升。同时临床研究显示，额叶是人体脑组织结构中发育最晚的结构，很容易表现为长时间的易感性，一旦刺激变化导致阵发性放电[12，13]。另外癫痫的发生与颞叶之间存在着密切的联系，由此得出枕区和额区阵发性放电与癫痫的发生存在着密切的联系[14 ......
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