联合DWI和SWI序列在脑弥漫性轴索损伤中的应用价值
http://www.100md.com
2014年9月25日
 |
| 第1页 |
参见附件。
丁仁福 黄丹江 杨文海 黄勇 浙江省台州市第一人民医院放射科;
【摘要】目的探讨弥散加权(DWI)序列和磁敏感加权(SWI)序列在脑弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值。方法对23例脑弥漫性轴索损伤患者,全部行常规MR序列,DWI和SWI序列,分别比较各序列对弥漫性轴索损伤非出血性和出血性病灶的检出数目,并分析其特点和信号特征。结果 DAI主要分布在基底节、皮髓交界区、胼胝体、脑干和小脑等区域。DWI对非出血性DAI的检出率高,而SWI对出血性DAI的检出率高。结论 DWI和SWI序列的联合应用很大地提高了DAI的检出率,有助于准确评价病变的严重程度,为DAI的早期临床诊断和预后评价提供了更多客观依据。
【关键词】 脑弥漫性轴索损伤 弥散加权成像 磁敏感加权成像
【基金】浙江省医药卫生科技计划项目(2013KYB296)
【分类号】R445.2
脑弥漫性轴索损伤(diffuse axonal injury,DAI)是由于外伤导致脑产生旋转加速而使脑组织发生剪切力,致使神经轴索断裂和毛细血管撕裂的一系列病理生理变化[1]。目前DAI的诊断主要依靠CT与MRI常规序列检查等,但二者对DAI的检出率较低,存在较大的局限性[2]。近年来随着弥散加权
------
您现在查看是摘要介绍页，详见PDF附件(2901kb)。