[摘要] 目的 比较2型糖尿病患者与正常人在三种工作记忆(working memory，WM)负荷水平下所诱发的事件相关电位(event-related potentials，ERPs)成分及其脑区分布差异，分析其事件相关电位的特点，讨论2型糖尿病患者工作记忆损害的神经机制。 方法 选取2012年6月～2013年10月期间火箭军总医院神經内科及内分泌科门诊和住院患者，筛选出2型糖尿病患者40例(男19例，女21例，最大年龄75岁，最小年龄55岁，平均67.45±7.82岁)。同时筛选出正常对照组40例(男18例，女22例，最大年龄75岁，最小年龄55岁，平均68.85±7.10岁)，年龄、性别等相匹配。两组受试者均行n-back试验(n=0，1，2)工作记忆任务的ERPs试验 ......