X Series 2 ICP-MS CCTED在食品样品超痕量元素分析中的应用
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产品概述
X Series 2 ICP-MS是一种四极杆ICP-MS，使用X Series 2 ICP-MS可以完成食品样品的分析，并采用碰撞反应池技术多种条件去除不同类型的质谱干扰问题。对于食品样品中含量极低的等元素得到了理想的检测结果，可以说为常规和高效分析工作提供了出色的生产率。ICP-MS作为一种新兴的痕量元素检测技术正被越来越多的食品分析用户使用。
ICP-MS具有检测速度快，低检出限，多元素同时检测，动态范围宽的特点，而这些优势则是目前应用更为广泛的石墨炉原子吸收所不具备的，ICP-MS不断的成为或即将成为环保、食品药品农产品检测的重金属元素检测法定方法。
在食品分析中，主要存在的问题：
1.基体较为复杂
ICP-MS中存在非常明显的基体效应，这些效应影响测试的精度和准确性，在食品分析中，经常面临的情况是样品消解溶液存在高含量的等元素基体。
2.质谱干扰问题
ICP-MS中的质谱干扰是实际样品分析中必须仔细考察的问题之一，食品中的高含量等基体对待测的痕量的As、Se的干扰尤为明显，可能的干扰如下表1所示：
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