会展
分析测试,报告会,科技部,热烈庆祝BCEIA2017在京圆满闭幕,“智能包装开启未来”，携手走入智造4.0
会展热烈庆祝BCEIA 2017在京圆满闭幕
本刊讯(记者 王崇民)10月13日，由中国分析测试协会主办的第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2017)在北京国家会议中心落下帷幕。BCEIA 2017学术报告会、展览会取得双丰收。展会期间，科技部黄卫副部长、原科技部副部长大会主席程津培院士和科技部有关司局长等领导共分5批到场参观指导，给予展会高度评价和赞扬!
BCEIA 2017在参展厂商及展位数量上再创新高 ......
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