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编号:13590569
NIHSS、ABCD2联合头颅磁共振评估短暂性脑缺血发作发生脑梗死的风险(2)
http://www.100md.com 2018年4月15日 《中国医学创新》 201811
     【Key words】 Transient ischemic attack; Cerebral infarction; NIHSS; ABCD2; Cranial magnetic resonance

    First-author’s address:The Eighth People’s Hospital of Nanning,Nanning 530000,China

    doi:10.3969/j.issn.1674-4985.2018.11.001

    短暂性脑缺血发作(transient ischemic attack,TIA)是一种常见的脑血管病,是由于局部脑或视网膜缺血引起的短暂性神经功能缺损发作,典型症状为持续时间不超过1 h,最长不超过24 h,且在影像学上无急性脑梗死的证据[1]。因人口平均年龄明显上升,肥胖、颈动脉狭窄等疾病发生率上升,高尿酸血症、高脂血症等疾病居高不下,TIA发生率也明显上升[2]。TIA危害极大,有报道显示其半年内卒中发生率为5%~11%,是公认的脑梗死重要独立危险因素[3-4] ......
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