超声多探头扫查在新生儿颅脑疾病诊断中的应用价值研究(2)
1 资料与方法1.1 一般资料 选取2017年6月-2018年6月于本院进行颅脑检查的517例患儿作为研究对象,其中男294例,女223例;胎龄28~41周,平均(36.72±2.10)周;出生体重1 150~4 200 g,平均体重(2 820.73±410.65)g。共检出75例新生儿颅脑疾病,其中室管膜下囊肿43例,室管膜下出血5例,早产儿脑征象23例,缺氧缺血性脑病3例,脑积水1例。纳入标准:(1)Apgar评分5 min或10 min≤7分;(2)胎儿宫内窘迫;(3)伴羊水Ⅲ度污染。排除标准:(1)合并明显畸形;(2)伴先天性残疾或遗传疾病;(3)出现继发性脑损伤;(4)放弃治疗。全部患儿家属均知情同意并签署知情同意书,本研究经医学伦理委员会审核批准。
1.2 方法 检查设备:仪器采用Philips M2540A超声诊断仪(生产厂家:Philips Ultrasound),低频凸阵探头及高频探头,频率分别为2.5~6.6、8.0~13.0 MHz。低频扫查组单独采用低频探头扫查方法,超声多探头扫查组联合使用低频探头及高频探头,具体操作如下:新生儿取平卧位,采用低频、高频探头经前囟行冠状及矢状切面连续动态扫查,经婴儿颞囟行水平切面扫查。扫查过程中注意观察患儿脑实质回声及双侧大脑半球结构,对患儿双侧侧脑室大小、中线至双侧颅骨距离、前角纵径宽度及前角至中线距离进行测量 ......
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