高热惊厥患儿皮质Glu能投射纤维和纹状体黑质神经元异常放电与其病愈后发生癫痫的关系
脑电图,1资料与方法,1一般资料,2方法,3观察指标,4统计学方法,2结果,1对120例患儿进行特殊脑电图检查的结果,2导致高热惊厥患儿特殊脑电图异常的原因,3导致特殊脑电图异
李 帅(海南省文昌市人民医院神经内科,海南 文昌 571300)
高热惊厥是指在呼吸道感染或其他感染性疾病患儿发病的早期,排除由颅内感染及其他器质性疾病或代谢性疾病引起的惊厥后,患儿在高热状态下发生的惊厥。6 个月至5 岁的儿童是高热惊厥的高发群体。高热惊厥患儿可出现突发性全身或局部肌强直或阵挛性抽搐、双眼凝视、斜视、发直或上翻及意识丧失等临床表现。此病可分为复杂性高热惊厥和单纯性高热惊厥[1]。有研究发现,高热惊厥患儿若存在惊厥长时间发作、脑电图异常、多次惊厥发作等情况,易导致其病愈后发生癫痫[2]。对高热惊厥患儿进行头颅CT检查或MRI 检查有助于诊断其病情,评估其预后[3]。复杂性高热惊厥患儿或存在神经发育异常的单纯性高热惊厥患儿出现脑电图异常的可能性较大,因此可通过对其进行脑电图检查评估其病情。但目前临床上尚未完全明确高热惊厥患儿脑电图的异常改变与其病愈后发生癫痫的关系,尤其是对大脑异常放电区不同患儿的临床表现报道较少[4-5]。有研究指出,儿童在发生高热惊厥时,大脑中皮质Glu 能投射纤维凋亡的数目和黑质神经元之间突触的密度会显著增加,导致突触的活性增强,引起皮质Glu 能投射纤维和纹状体黑质神经元异常放电,而该活动可被脑电图记录。本文主要是探讨高热惊厥患儿皮质Glu 能投射纤维和纹状体黑质神经元异常放电与其病愈后发生癫痫的关系。
1 资料与方法
1.1 一般资料
选择我院2016 年6 月至2018 年3 月收治的120 例高热惊厥患儿作为研究对象。其纳入标准是:病情符合高热惊厥的诊断标准;病历资料完整;其家长签署了自愿参与本研究的知情同意书。其排除标准是:患有严重的肝肾疾病或心脑血管疾病;有癫痫病史;中途退出本研究。在这些患儿中,有男60 例,女60 例;其年龄为1 ~9 岁;其中,年龄<6 岁的患儿有68 例,年龄≥6 岁的患儿有52 例;单纯性高热惊厥患儿(其表现为惊厥持续的时间短暂,未超过15 min,在1 d 内未复发,发作后神经系统功能正常)有90 例,复杂性高热惊厥患儿(其表现为惊厥持续的时间超过15 min,1 d 内发作的次数超过1 次,呈复杂性发作,发作后可对神经系统功能产生影响)有30 例 ......
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