【摘要】 目的：分析新生儿PICC导管相关性感染的危险因素。方法：回顾选择2015年2月至2016年2月至我院接受PICC置管的97例新生儿的临床资料，依据导管相关性感染(CRI)情况，分为对照组(40例)与研究组(57例)，设未发生CRI为对照组，发生CRI为研究组，分析两组CRI发生的因素以及感染导管病原菌培养情况。结果：白细胞数、穿刺次数、导管置留时间三个因素多占的比例，研究组均高于对照组，操作人员经验这一因素比例，研究组低于对照组(P<0.05)；革兰阳性球菌的致病几率高于真菌、革兰阴性杆菌(P<0.05)。结论：操作人员的经验、导管置留时间以及白细胞数是导致CRI发生的主要原因，CRI发生的主要致病菌均为真菌、革兰阴性杆菌以及革兰阳性球菌。

    【关键词】 新生儿；PICC导管相关性感染

    PICC技术于新生儿置管中逐渐普及，因操作简单方便，能减轻静脉穿刺疼痛感，减少药物外渗，而被广泛应用[1]。为分析导管相关性感染(CRI)的危险因素以及感染导管病原菌培养情况，本研究就我院收治的97例新生儿的临床资料进行分析，现报道如下。

    1资料与方法

    1.1一般资料

    回顾选择2015年2月至2016年2月至我院接受PICC置管的97例新生儿的临床资料 ......