李玉斌，江 靖，龙彧茵，周晓敏，陈 彪

    (四川科伦药业股份有限公司，四川 资阳，641300)

    常用的粒度测定方法有显微镜法、筛分法、沉淀法及光散射法等。显微镜法，是采用光学显微镜(粒度范围 0.8～150 μm)或电子显微镜(0.001～5 μm)来观察，可以观察颗粒产品结合成聚集体以及破碎为碎块的情况，因此在测量过程中有可能考虑颗粒的形状，绘出特定表面的粒度分布图，而不只是平均粒度的分布图；但是在用电子显微镜对超细颗粒的形貌进行观察时，由于颗粒间普遍存在范德华力和库仑力，颗粒极易形成球团，给颗粒粒度测量带来困难。筛分法，适用于测量粒度为 30 μm 以上的颗粒，优点在于其设备简单、操作简便、易于实行，缺点是在筛分操作过程中，颗粒有可能破损或断裂，因此筛分特别不适合测定长形针状或片状颗粒的粒度。沉降法，是基于颗粒处于悬浮体系时，颗粒本身重力(或所受离心力)、所受浮力和黏滞阻力三者平衡，并且黏滞力服从斯托克斯定律来实施测定的，适用范围较为受限，需满足以下条件：颗粒接近于球形，并且完全被液体润湿；颗粒在悬浮体系的沉降速度是缓慢而恒定的，而且达到恒定速度所需时间很短；颗粒在悬浮体系中的布朗运动不会干扰其沉降速度；颗粒间的相互作用不影响沉降过程[1-3]。光散射法，单色光束照射到颗粒供试品后即发生散射现象，由于散射光的能量分布与颗粒的大小有关，通过测量散射光的能量分布(散射角)，依据米氏散射理论和弗朗霍夫近似理论，即可计算出颗粒的粒度分布 ......